Eddyfi lance la deuxième génération de son détecteur de défauts
Eddyfi Technologies a développé le détecteur de défauts Panther 2 pour les inspections par ultrasons multi-éléments et la méthode de focalisation totale (TFM).
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par Cédric Lardière | 12 Mai 2023 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, ÉNERGIE, ESSAI/MÉTROLOGIE, MÉTALLURGIE/SIDÉRURGIE, TECHNO
Eddyfi Technologies a développé le détecteur de défauts Panther 2 pour les inspections par ultrasons multi-éléments et la méthode de focalisation totale (TFM).
par Cédric Lardière | 26 Jan 2023 | NOUVEAUX PRODUITS, NP-ESSAI/MÉTROLOGIE, SEMI-CONDUCTEURS
Advantest a dévoilé le le microscope électronique à balayage pour la visualisation des défauts (DR-SEM) E5620 destiné à l’examen et la classification des défauts de très petites tailles sur les photomasques actuels et les photomasques UV extrême de prochaine génération.
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