L’instrument Gobi d’UltraFast Innovations, distribué par Opton Laser, permet de caractériser et de contrôler la qualité des optiques multicouches ultrarapides. Il met en œuvre un interféromètre de Michelson à lumière blanche et à résolution spectrale pour mesurer l’optique en termes de phase spectrale et de dispersion de retard de groupe (GDD).
Micro-Epsilon propose désormais une série d’interféromètres à lumière blanche « multi-pics ».
En fonction de leurs besoins, les utilisateurs peuvent choisir entre les détecteurs de contraste à lumière blanche et les modèles à lumière RVB.
Destiné à la production de semi-conducteurs, le NX-Hybrid WLI de Park Systems est le premier système du marché intégrant en un seul équipement un microscope à force atomique (AFM) à un profilomètre par interférométrie à lumière blanche (WLI).
