Asylum Research lance le premier microscope à forme atomique (AFM) du marché, doté d’un détecteur à interférométrie différentielle en quadrature de phase (QPDI), pour des mesures plus précises et plus reproductibles.
La gamme NANOstandard de Park Systems fournit des échantillons standards d’étalonnage pour les microscopes à force atomique (AFM) et les microscopes électroniques à balayage (MEB), assurant des mesures et des analyses précises.
Destiné à la production de semi-conducteurs, le NX-Hybrid WLI de Park Systems est le premier système du marché intégrant en un seul équipement un microscope à force atomique (AFM) à un profilomètre par interférométrie à lumière blanche (WLI).
Teledyne LeCroy lance une solution de test de validation CXL 2.0
Analyseurs de prises de courant et testeurs de bracelets ESDModule CAN/WLAN ou CAN/USB
Keysight Technologies élargit sa gamme d’analyseurs de réseau vectoriels
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