La suite logicielle Zeiss Efficient Navigation (ZEN) core intègre l’ensemble des outils d’imagerie de Zeiss en une seule solution, améliorant ainsi l’efficacité et la flexibilité des expériences de microscopie corrélative, multiéchelle et multimodale en recherche et dans l’industrie (recherche sur les matériaux, ressources naturelles, électronique, sciences de la vie).
Le Crossbeam 550 Samplefab de Zeiss est un microscope électronique à balayage à faisceau d’ions focalisé (FIB-SEM), optimisé pour la préparation automatisée d’échantillons, des échantillons en vrac aux lamelles amincies jusqu’à 100 nm, de microscopie électronique en transmission (MET) dans les laboratoires de semi-conducteurs.
Pour répondre au besoin accru de confirmer plus facilement les informations relatives à la composition d’un produit ou d’un matériau, JEOL propose les microscopes électroniques à balayage (MEB) JSM-IT210 et JSM-IT710HR. Ils se distinguent par des fonctions de mesure automatique améliorées pour l’observation et l’analyse.
Le Japonais a développé le système à faisceau d’ions focalisé et microscope électronique à balayage JIB-PS500i pour une précision plus élevée et un échantillon plus mince pour les microscopes électroniques à transmission (TEM).
Les microscopes électroniques à balayage à émission de champ (FE-SEM) associés à une solution in situ de Zeiss permettent de quantifier la microstructure de matériaux et les propriétés mécaniques globales dans un seul environnement expérimental automatisé.
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