Avec le scanner économique P-725.xCDE1S et la platine XY U-781 PILine, Physik Instrumente (PI) complète sa gamme de systèmes de positionnement PIFOC pour les applications de microscopie à fluorescence en inspection des semi-conducteurs, en interférométrie, en criblage, etc.
Zeiss a développé l’O-Inspect duo qui regroupe, en un seul système, une machine de mesure tridimensionnelle (MMT) multi-capteurs et un microscope.
Ce partenariat vise à intégrer, de manière transparente, les solutions de contrôle qualité du Français dans la gamme de microscopes de l’Allemand.
Avec la sortie de Preciv 1.2, le logiciel d’imagerie et de mesure d’Evident (ex-Olympus IMS) dispose de fonctionnalités supplémentaires, qui rendent plus rapides et plus efficaces les processus d’inspection, d’évaluation des produits et de mesure en contrôle qualité, en inspection et en R&D.
Le microscope AIRsight de Shimadzu est capable d’acquérir des spectres infrarouges et Raman à partir de la même position, donc sans déplacer l’échantillon, dans une section extrêmement petite.
Teledyne LeCroy lance une solution de test de validation CXL 2.0
Analyseurs de prises de courant et testeurs de bracelets ESDModule CAN/WLAN ou CAN/USB
Keysight Technologies élargit sa gamme d’analyseurs de réseau vectoriels
Inscrivez-vous à notre Newsletter gratuite