L’Italien Microtest acquiert le Britannique ipTest
Le fabricant se renforce dans de le test de semi-conducteurs, notamment en carbure de silicium (SiC) et en nitrure de gallium (GaN), et s’implante au Royaume-Uni.
Étiquette : SiC
L’outil réduit le temps de validation des technologies SiC et GaN
Tektronix propose une solution de test à double impulsion à large bande pour ses oscilloscopes numériques MSO4, MSO5 et MSO6.
Le système optique inspecte les wafers de SiC
Nanotronics a développé un système d’inspection optique automatisé, qui s’affranchit des méthodes de test destructives pour la fabrication de tranches frontales de SiC et de dispositifs.
MESURE ELEC/ELECTRO
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Module CAN/WLAN ou CAN/USB2 octobre 2024
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