Rohde & Schwarz automatise le test de conformité PCIe 5.0/6.0
L’Allemand a dévoilé une solution automatisée pour accélérer les tests de conformité des câbles et connecteurs PCIe 5.0 et PCIe 6.0.
Chaque itération de l’évolution de la spécification PCI Express (PCIe) a doublé le taux de transfert pour répondre à la demande croissante de vitesse. C’est ainsi que les centres de données commencent à utiliser des câbles compatibles PCIe 5.0 et PCIe 6.0 (les dernières générations en date). La vérification en R&D, les tests de conformité et la fabrication nécessitent des contrôles approfondis pour garantir la conformité à la spécification et le bon fonctionnement des systèmes.
Compte tenu du nombre de paires (1, 2, 4, 8 ou 16), la vérification manuelle de la conformité d’une interconnexion à grande vitesse demande beaucoup de travail et est sujette aux erreurs. Avec un analyseur de réseau vectoriel à 4 ports traditionnel, il faut le reconnecter pour chaque mesure et les voies non mesurées doivent être correctement terminées.
Pour simplifier considérablement les tests de conformité des câbles et connecteurs PCIe 5.0 et PCIe 6.0 selon la spécification PCI-SIG, l’Allemand Rohde & Schwarz a développé une option supplémentaire pour sa suite d’automatisation ZNrun-K440, étendant ainsi les logiciels applicatifs de ses séries d’analyseurs de réseau vectoriels.
Pour une vérification entièrement automatisée d’un câble PCIe x8, par exemple, l’option ZNrun-K440, associé à un analyseur de réseau vectoriel 4 ports ZNB26 ou ZNB43 et des plates-formes de commutation OSP320, réduit les temps de test pour les câbles PCIe x8 à quelques minutes seulement – au lieu de plusieurs heures avec les tests manuels, sans compter le risque d’erreurs de connexion – pour des tests complets avec toutes les combinaisons Thru et de diaphonie, ainsi que les calculs métriques correspondants pour les évaluations Pass/Fail.
Étant donné que certaines excursions de masque de limite ne sont pas critiques pour le comportement global du système PCIe 5.0/6.0, les résultats de type Pass/Fail sont basés sur des métriques telles que la perte de retour intégrée (iRL) et la contribution des composants au bruit de diaphonie intégré (ccICN). Ces métriques doivent être calculées à partir des résultats des paramètres S, ce qui nécessite un posttraitement important. C’est ce que fait le logiciel ZNrun-K440.
Enfin, l’automatisation comporte une nouvelle procédure d’étalonnage, qui réduit significativement le nombre d’étapes et de connexions d’étalonnage. Elle comprend également une méthode de de-embedding du dispositif de test, comme l’exige la spécification de test PCIe.