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Catégorie : SEMI-CONDUCTEURS

Caméras SWIR CoaXpress et SDI

New Imaging Technologies (NIT) a ajouté, à sa gamme de caméras infrarouges à ondes courtes (SWIR), les modèles SenS 1280 CxP, avec sortie CoaXpress compatible avec le protocole GenIcam (vision industrielle, inspection de semi-conducteurs, de cellules solaires), et SenS 1280 SDI, avec sortie SDI, compatible avec la plupart des plates-formes vidéo utilisées dans les applications terrestres, navales et aéronautiques.

Système d’inspection des surfaces et des faces arrière des wafers sans motif

Hitachi High-Tech propose désormais le LS9300AD, un système d’inspection des surfaces et des faces arrière des wafers sans motif (avant la formation du motif du circuit) pour la recherche de particules et de défauts. Il s’agit d’effectuer l’assurance qualité lors de l’expédition, l’acceptation des wafers et le contrôle des particules dans divers procédés de fabrication d’appareils.

Douille de test en élastomère

Cotelec commercialise désormais la douille de test en élastomère Silmat de Smiths Interconnect. Elle présente la particularité d’être un contact breveté à profil bas – la longueur du trajet du signal est inférieure à 1 mm – pour les applications de test numérique haute vitesse et de Package-on-Package (PoP) Top dans l’industrie des semi-conducteurs.

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