Zeiss dévoile des microscopes 3D à rayons X de nouvelle génération
Le modèle VersaXRM 730 est capable d’atteindre des performances « exceptionnelles », une vitesse de traitement accrue et une réduction du délai d’obtention des résultats.
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par Cédric Lardière | 11 Oct 2024 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, ÉDUCATION/RECHERCHE, ESSAI/MÉTROLOGIE, MÉTALLURGIE/SIDÉRURGIE, TECHNO
Le modèle VersaXRM 730 est capable d’atteindre des performances « exceptionnelles », une vitesse de traitement accrue et une réduction du délai d’obtention des résultats.
par Cédric Lardière | 10 Oct 2024 | 7/7, AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, ESSAI/MÉTROLOGIE, TECHNO
Les de MMT portables FaroArm Quantum X de l’Américain se distinguent de ceux la série précédente, notamment, par une justesse de mesure accrue de 15 %.
par Cédric Lardière | 1 Oct 2024 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, ECO, FOURNISSEUR
Andreas Pecher, actuel membre du conseil d’administration, président et CEO du segment Semiconductor Manufacturing Technology (SMT), succèdera à Karl Lamprecht au poste de CEO de Carl Zeiss.
par Cédric Lardière | 1 Oct 2024 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, CHIMIE/PÉTROCHIMIE, ECO, MARCHÉS, MÉTALLURGIE/SIDÉRURGIE
ResearchAndMarkets.com prévoit que le marché mondial des équipements de contrôle non destructif (CND) par courant de Foucault devrait atteindre 678,1 M$ d’ici 2030, soit un CAGR de 5,3 % entre 2023 et 2030.
par Cédric Lardière | 30 Sep 2024 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, COMMUNICATIONS, ÉDUCATION/RECHERCHE, MESURE ELEC/ELECTRO, MESURE ELECTRONIQUE, SEMI-CONDUCTEURS, TECHNO
La nouvelle série PNA-X NA520xA de l’Américain simplifie les configurations de test complexes pour la caractérisation de composants, grâce à une « architecture hautement configurable ».
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