Zeiss dévoile des microscopes 3D à rayons X de nouvelle génération
Le modèle VersaXRM 730 est capable d’atteindre des performances « exceptionnelles », une vitesse de traitement accrue et une réduction du délai d’obtention des résultats.
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par Cédric Lardière | 11 Oct 2024 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, ÉDUCATION/RECHERCHE, ESSAI/MÉTROLOGIE, MÉTALLURGIE/SIDÉRURGIE, TECHNO
Le modèle VersaXRM 730 est capable d’atteindre des performances « exceptionnelles », une vitesse de traitement accrue et une réduction du délai d’obtention des résultats.
par Cédric Lardière | 9 Oct 2024 | 7/7, ECO, ÉDUCATION/RECHERCHE, FOURNISSEUR, MÉDICAL, SEMI-CONDUCTEURS
Avec ce rachat, Lynred consolide sa position de leader dans le domaine des capteurs infrarouges à ondes courtes (SWIR).
par Cédric Lardière | 8 Oct 2024 | 7/7, ÉDUCATION/RECHERCHE, ESSAI/MÉTROLOGIE, TECHNO
Le professeur américain et le professeur britannique ont été récompensé pour leurs travaux sur les réseaux neuronaux artificiels depuis les années 1980.
par Cédric Lardière | 4 Oct 2024 | AGRO/PHARMA/COSMÉTIQUES, ÉDUCATION/RECHERCHE, ENVIRONNEMENT/EAU, LABORATOIRE, TECHNO
L’Américain a lancé la série de spectromètres de masse à plasma inductif (ICP-MS) iCAP MX, à quadripôle ou triple quadripôle, simplifiant l’analyse des traces avec cette technique analytique.
par Cédric Lardière | 1 Oct 2024 | ÉDUCATION/RECHERCHE, NP-LABORATOIRE
Avec le scanner économique P-725.xCDE1S et la platine XY U-781 PILine, Physik Instrumente (PI) complète sa gamme de systèmes de positionnement PIFOC pour les applications de microscopie à fluorescence en inspection des semi-conducteurs, en interférométrie, en criblage, etc.
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