Scanner de mise au point dynamique pour microscopes
Avec le scanner économique P-725.xCDE1S et la platine XY U-781 PILine, Physik Instrumente (PI) complète sa gamme de systèmes de positionnement PIFOC pour les applications de microscopie à fluorescence en inspection des semi-conducteurs, en interférométrie, en criblage, etc.
Principales caractéristiques :
Scanner de mise au point dynamique P-725.xCDE1S : ensemble complet comprenant 2 versions de contrôleur (système de balayage)- Plages de déplacement en Z : 100 µm ou 400 µm
- Erreur de linéarité maximale en Z : 0,2 %
- Répétabilité maximale du point : 20 nm
- Guides à flexion sans jeu d’où absence d’entretien, de frottement, d’usure et de lubrifiant
- Système de platines XY U-781 PILine, avec contrôleur et joystick, pour microscope inversé
- Nouveau mode d’entraînement à « double fréquence » améliorant la fluidité et la réduction du bruit pendant le mouvement
- Mode d’entraînement « Adaptive Parameter » adaptant automatiquement les paramètres à la trajectoire prévue
Fabricant : Physik Instrumente (PI)
Références produits : P-725.xCDE1S et U-781 PILine
