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Catégorie : SEMI-CONDUCTEURS

Microscope électronique à balayage à faisceau d’ions focalisé pour semi-conducteurs

Le Crossbeam 550 Samplefab de Zeiss est un microscope électronique à balayage à faisceau d’ions focalisé (FIB-SEM), optimisé pour la préparation automatisée d’échantillons, des échantillons en vrac aux lamelles amincies jusqu’à 100 nm, de microscopie électronique en transmission (MET) dans les laboratoires de semi-conducteurs.

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