La caméra « streak » passe aux semi-conducteurs

Optronis a développé la première caméra « streak » à semi-conducteurs du marché, et non ne reposant plus sur des tubes à vide.

Les caméras « streak » permettent de mesurer des phénomènes optiques dans la gamme des picosecondes, voire jusqu’aux femtosecondes. Les caméras « streak » conventionnelles basées sur des tubes à vide sont coûteuses et fragiles du point de vue de leur manipulation.

En développant la première caméra « streak » à semi-conducteurs (Solid State Streak Camera ou S3C), l’Allemand Optronis, qui propose déjà des modèles à tube à vide, affirme apporter, sur le marché, un nouvel instrument pour des investigations scientifiques détaillées dans le domaine des processus ultrarapides, à des niveaux de coût et de robustesse inédits.

Pour le moment, le fabricant n’indique les caractéristiques concernant ni le coût ni la robustesse, mais mentionne seulement que le nouveau modèle, référencé S3C-1, affiche des dimensions de 120 x 120 mm et une masse inférieure à 2 kg.

Comme les caméras « streak » à tube à vide, le S3C-1 détecte les variations de lumière le long d’une ligne, d’une largeur de 65 µm et divisée en 200 éléments sur sa longueur de 5 mm. Chaque élément est constitué d’une photodiode et d’un amplificateur. Avec une fenêtre temporelle de 100 ns à 10 ms, une résolution temporelle proche de 1 ns et une fréquence d’acquisition maximale de 2 Géch/s, les mesures sont désormais possibles là où aucun signal de déclenchement approprié n’était auparavant disponible.

Une nouvelle fonction intégré à la nouvelle caméra est l’enregistrement continu des événements où l’information temporelle exacte sur leur occurrence n’est disponible qu’après leur apparition. Ce « post-déclenchement » simplifie ou n’autorise que certaines applications.

La caméra S3C-1 d’Optronis devrait ouvrir de nouvelles possibilités dans des domaines tels que la recherche sur le plasma, la détonique, la microfluidique ou l’analyse des micro-mouvements rapides (technologie Mems).