Microscopes électroniques à balayage
Pour répondre au besoin accru de confirmer plus facilement les informations relatives à la composition d’un produit ou d’un matériau, JEOL propose les microscopes électroniques à balayage (MEB) JSM-IT210 et JSM-IT710HR. Ils se distinguent par des fonctions de mesure automatique améliorées pour l’observation et l’analyse.
Principales caractéristiques :
Grossissements : x5 à x300 000 et x600 000 (photo), x15 à x883 652 et x1 767 305 (affichage)- Fonction « Simple SEM » : sélection simple des conditions d’acquisition et du champ de vision de l’image, puis acquisition automatique de l’image et de l’analyse EDS (spectrométrie de rayons X à dispersion d’énergie)
- Fonction « Live3D » : construction d’images 3D sur place pendant l’observation, afin d’obtenir des informations sur les irrégularités et la profondeur
- Fonction « Stage Navigation System LS » : acquisition d’une image optique d’une zone cinq fois plus grande que celle des systèmes conventionnels (diamètre d’environ 159 mm) et déplacement vers le champ d’observation souhaité en cliquant simplement sur l’image optique
- « Low-vacuum Hybrid Secondary Electron Detector » (LHSED ; détection des signaux des électrons et des photons) : obtention d’une image avec un rapport signal/bruit élevé et acquisition d’informations topographiques améliorées, même sous un vide réduit
- Platine porte-échantillons à commande motorisée à 5 axes (JSM-IT210)
- Amélioration de la stabilité du canon à électrons (JSM-IT710HR)
Fabricant : JEOL
Références produits : JSM-IT210 et JSM-IT710HR
