Microscopes électroniques à balayage avec analyse in situ

Les microscopes électroniques à balayage à émission de champ (FE-SEM) associés à une solution in situ de Zeiss permettent de quantifier la microstructure de matériaux et les propriétés mécaniques globales dans un seul environnement expérimental automatisé.

Principales caractéristiques :

• Observation des matériaux sous l’effet de la chaleur et de la tension
• Traçage de courbes contrainte-déformation à la volée
• Définition de plusieurs régions d’intérêt
• Mise à jour possible des modèles Sigma 500, GeminiSEM 360 et GeminiSEM 460
• Connexion à l’écosystème de base Zen, avec accès à Zen Connect, Zen Intellisis et aux modules d’analyse Zen
• Support de services et d’applications inclus

Fabricant : Zeiss

Références produits : Sigma 500, GeminiSEM 360 et GeminiSEM 460