Scanner de mise au point dynamique pour microscopes

Avec le scanner économique P-725.xCDE1S et la platine XY U-781 PILine, Physik Instrumente (PI) complète sa gamme de systèmes de positionnement PIFOC pour les applications de microscopie à fluorescence en inspection des semi-conducteurs, en interférométrie, en criblage, etc.

Principales caractéristiques :

• Scanner de mise au point dynamique P-725.xCDE1S : ensemble complet comprenant 2 versions de contrôleur (système de balayage)
• Plages de déplacement en Z : 100 µm ou 400 µm
• Erreur de linéarité maximale en Z : 0,2 %
• Répétabilité maximale du point : 20 nm
• Guides à flexion sans jeu d’où absence d’entretien, de frottement, d’usure et de lubrifiant
• Système de platines XY U-781 PILine, avec contrôleur et joystick, pour microscope inversé
• Nouveau mode d’entraînement à « double fréquence » améliorant la fluidité et la réduction du bruit pendant le mouvement
• Mode d’entraînement « Adaptive Parameter » adaptant automatiquement les paramètres à la trajectoire prévue

Fabricant : Physik Instrumente (PI)

Références produits : P-725.xCDE1S et U-781 PILine