L’inspection des défauts de surface de wafers s’accélère
Le dernier système d’inspection de défauts de wafers d’Hitachi Hight-Tech dispose des capacités de...
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Posté par Cédric Lardière | 22 Déc 2023 | ESSAI/MÉTROLOGIE, SEMI-CONDUCTEURS, TECHNO
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En savoir plusPosté par Cédric Lardière | 22 Déc 2023 | ECO, ÉDUCATION/RECHERCHE, FOURNISSEUR
Physik Instrumente (PI Group) a promu Laurent Melin au poste de Senior Vice President Global...
En savoir plusPosté par Cédric Lardière | 21 Déc 2023 | ÉDUCATION/RECHERCHE, NOUVEAUX PRODUITS, NP-LABORATOIRE
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En savoir plusPosté par Cédric Lardière | 21 Déc 2023 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, COMMUNICATIONS, ÉDUCATION/RECHERCHE, ESSAI/MÉTROLOGIE, MESURE ELEC/ELECTRO, MESURE ELECTRONIQUE, TECHNO
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En savoir plusPosté par Cédric Lardière | 20 Déc 2023 | ÉDUCATION/RECHERCHE, NP-LABORATOIRE
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