Helmut Fischer améliore les performances de ses spectromètres XRF
Un nouveau processeur d’impulsions numérique améliore significativement les performances globales de trois appareils de la série FischerScope X-Ray XDV.
Ce qui distingue les spectromètres de fluorescence à rayons X (XRF) FischerScope X-Ray XDV-µ, FischerScope X-Ray XDV-µ LD et FischerScope X-Ray XDV-SDD, que vient d’annoncer l’Allemand Helmut Fischer, réside dans l’intégration du nouveau composant DPP+.
Ce processeur d’impulsions numérique de dernière génération, qui porte les taux de comptage à un nouveau niveau de performance et améliore jusqu’à 50 % les performances globales des appareils. Les utilisateurs bénéficient ainsi d’une optimisation de la précision de mesure ou de la réduction du temps de mesure.
Plus précisément, l’optique polycapillaire développée par Fischer permet des points de mesure minuscules avec des temps de mesure courts et une intensité élevée, en particulier lors de l’analyse des plus petits composants et microstructures. Cela permet d’obtenir les taux de comptage les plus élevés et une taille de spot optimisée, affirme la société.
Dotés de l’optique polycapillaire, les modèles FischerScope X-Ray XDV-µ et XDV-µ LD (Long Distance) sont destinés à la mesure de composants et de structures très petits. Le modèle FischerScope X-Ray XDV-SDD est, lui, adapté aux mesures automatisées des couches très fines et à l’analyse de traces.
Les trois spectromètres intègrent une source de rayons X de 10, 30 ou 50 kV et un détecteur SDD refroidi (résolution inférieure à 140 eV ; XDV-SDD). Chacun peut accueillir un échantillon de masse de 5 kg, ou 20 kg avec une précision d’approche réduite, et de hauteur de 135 mm (140 mm ; XDV-SDD).
Signalons encore un déplacement XY programmable et un axe Z programmable (XDV-SDD), l’alignement de l’échantillon par microscope vidéo, la présence d’un support des circuits imprimés en option (XDV-µ et XDV-µ LD), des dimensions interne de la chambre (L x P x H) de 580 x 560 x 145 mm, etc.
La nouvelle série FischerScope XDV se distingue par ailleurs par sa simplicité d’utilisation grâce à un joystick et des boutons de commande intuitifs situés directement sur l’appareil. Associés au logiciel WinFTM, les analyseurs XRF répondent aux exigences d’un grand nombre d’industries et d’applications.
