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Microscopes électroniques à balayage avec analyse in situ

Microscopes électroniques à balayage avec analyse in situ

Les microscopes électroniques à balayage à émission de champ (FE-SEM) associés à une solution in situ de Zeiss permettent de quantifier la microstructure de matériaux et les propriétés mécaniques globales dans un seul environnement expérimental automatisé.

Principales caractéristiques :

  • Observation des matériaux sous l’effet de la chaleur et de la tension
  • Traçage de courbes contrainte-déformation à la volée
  • Définition de plusieurs régions d’intérêt
  • Mise à jour possible des modèles Sigma 500, GeminiSEM 360 et GeminiSEM 460
  • Connexion à l’écosystème de base Zen, avec accès à Zen Connect, Zen Intellisis et aux modules d’analyse Zen
  • Support de services et d’applications inclus

Fabricant : Zeiss

Références produits : Sigma 500, GeminiSEM 360 et GeminiSEM 460

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