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Nordson dévoile une nouvelle génération de système d’inspection

Nordson dévoile une nouvelle génération de système d’inspection

Le système par rayons X manuel Quadra 7 Pro de Nordson Test & Inspection répond aux besoins d’inspection difficiles des industriels, leur permettant d’améliorer rendements, processus et productivité.

Nordson Test & Inspection, entité du groupe britannique Nordson, dévoilera le système d’inspection par rayons X manuelle Quadra 7 Pro lors du salon Semicon China, qui se déroulera du 29 juin au 1er juillet 2023 au Shanghai New International Expo Center.

« Nous continuons à faire progresser notre technologie pour fournir à nos clients des solutions supérieures répondant à leurs besoins dinspection difficiles et leur permettant d’améliorer leurs rendements, leurs processus et leur productivité. Le nouveau Quadra 7 Pro représente en cela un véritable bond en avant », affirme Perry Duffill, vice-président de Nordson Test & Inspection.

Le système d’inspection est alimenté par le tube à rayons X QuadraNT4 de dernière génération (tube à transmission sans filament, de puissance maximale de 20 W), qui apporte une flexibilité maximale avec deux modes de luminosité et de résolution. Les utilisateurs peuvent ainsi basculer dynamiquement d’un mode à l’autre, en fonction des besoins de leur application.

Le Quadra 7 intègre également le nouveau détecteur Onyx (Aspire FP) de résolution de 6,7 mégapixels, de fréquence d’acquisition de 30 trames par seconde et de pas de pixel de 50 µm. Le détecteur réduit le bruit pour une clarté d’image supérieure et des taux de trame plus rapides

Parmi les autres spécifications, citons un champ de vision oblique de deux fois 70° (sans rotation de l’échantillon nécessaire), d’une résolution d’affichage de 164 PPI, d’une zone d’inspection de 510 x 445 mm, de grossissements géométrique de 2 500x et total de 68 000x. La machine contribue à une inspection 2D/3D manuelle avec une résolution plus élevée pour les applications de semi-conducteurs back-end (packaging et test).

Par ailleurs, le système d’inspection par rayons X est associé au nouveau logiciel Revaluation conçu pour les applications de semi-conducteurs haut de gamme. Il se distingue par une expérience utilisateur « exceptionnelle » avec une interface intuitive, un flux de travail optimisé et des fonctionnalités améliorées.

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