Eddyfi lance la deuxième génération de son détecteur de défauts
Eddyfi Technologies a développé le détecteur de défauts Panther 2 pour les inspections par ultrasons multi-éléments et la méthode de focalisation totale (TFM).
Étiquette : défaut
MEB pour la visualisation des défauts de photomasques
Advantest a dévoilé le le microscope électronique à balayage pour la visualisation des défauts (DR-SEM) E5620 destiné à l’examen et la classification des défauts de très petites tailles sur les photomasques actuels et les photomasques UV extrême de prochaine génération.
MESURE ELEC/ELECTRO
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