
Le système optique inspecte les wafers de SiC
Nanotronics a développé un système d’inspection optique automatisé, qui s’affranchit des méthodes de test destructives pour la fabrication de tranches frontales de SiC et de dispositifs.
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par Cédric Lardière | 5 Jan 2023 | MESURE ELEC/ELECTRO, MESURE ELECTRONIQUE, SEMI-CONDUCTEURS, TECHNO
Nanotronics a développé un système d’inspection optique automatisé, qui s’affranchit des méthodes de test destructives pour la fabrication de tranches frontales de SiC et de dispositifs.
par Cédric Lardière | 13 Déc 2022 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, ÉDUCATION/RECHERCHE, ESSAI/MÉTROLOGIE, TECHNO
A partir de ses capteurs confocaux et profileurs laser, LMI Technologies a développé un système d’inspection optique pour caractériser, sans contact, la surface de matériaux multi-couches, texturés, mixtes, etc.
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