Innodisk lance une solution de mesure de la qualité de l’air
Pour ce développement, le Taïwanais s’est notamment appuyé sur l’expertise de sa filiale Sysinno en matière de détection de la qualité de l’air.
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par Cédric Lardière | 5 Juin 2024 | ENVIRONNEMENT/EAU, PROCÉDÉ, TECHNO
Pour ce développement, le Taïwanais s’est notamment appuyé sur l’expertise de sa filiale Sysinno en matière de détection de la qualité de l’air.
par Cédric Lardière | 21 Mai 2024 | NOUVEAUX PRODUITS, NP-ESSAI/MÉTROLOGIE, SEMI-CONDUCTEURS
inTest propose désormais le système de test de température de table Temptronic RapidTemp BT28 ThermoStream pour les tests thermiques en électronique et en semiconducteurs (test des performances d’un produit en conception, nivellement du débit en production, résolution des problèmes liés à la température en analyse de la qualité).
par Cédric Lardière | 25 Avr 2024 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, MÉTALLURGIE/SIDÉRURGIE, NOUVEAUX PRODUITS, NP-ESSAI/MÉTROLOGIE
L’AM-Cell C de Scantech est un système de mesure 3D optique automatisé, constitué d’un robot, d’un positionneur et d’une station de suivi. Ce système est conçu pour l’inspection de pièces de petite à moyenne taille, telles que des pièces embouties ou moulées par injection, des tôles usinées.
par Cédric Lardière | 26 Mar 2024 | NP-PROCÉDÉ, SEMI-CONDUCTEURS
Hitachi High-Tech propose désormais le LS9300AD, un système d’inspection des surfaces et des faces arrière des wafers sans motif (avant la formation du motif du circuit) pour la recherche de particules et de défauts. Il s’agit d’effectuer l’assurance qualité lors de l’expédition, l’acceptation des wafers et le contrôle des particules dans divers procédés de fabrication d’appareils.
par Cédric Lardière | 30 Jan 2024 | NOUVEAUX PRODUITS, NP-ESSAI/MÉTROLOGIE, SEMI-CONDUCTEURS
Le Firefly G3 d’Onto Innovation est un système d’inspection pour le contrôle automatisé des procédés lors de la production en grande volume de substrats au niveau des panneaux basés sur des chiplets IA. Il remplace les multiples outils et opérateurs pour l’examen et la classification des défauts (bulles, particules sous le film) à un stade précoce.
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