Yokogawa Electric améliore ses analyseurs de spectre optiques
Le Japonais propose désormais plusieurs versions de ses analyseurs de spectre optiques proche et moyen infrarouges, dédiées à des applications particulières.
Le Japonais Yokogawa Electric a fait évoluer sa gamme d’analyseurs de spectre optiques (OSA), en introduisant les versions AQ6375E et AQ6376E (voir photographie), les successeurs des modèles proche et moyen infrarouges AQ6375B et AQ6376.
La première différence entre les anciens et nouveaux OSA porte sur l’existence de trois versions pour le modèle AQ6375E. Les versions standard (AQ6375E-10), étendue (AQ6375E-20) et limitée (AQ6375E-01) affichent une plage de longueurs d’onde respective de 1 200 à 2 400 nm, 1 000 à 2 500 nm et 1 200 à 2 400 nm, au lieu de 1 200 à 2 400 nm pour le modèle AQ6375B.

Citons également une justesse en longueur d’onde de ±0,5 nm (full range), jusqu’à 0,05 nm pour les versions standard et étendue, un span de 0,5 à 1 200 nm (full span) ou de 0,5 à 1 500 nm (AQ6375E-20, un full span de 0,5 à 1 900 nm, la configuration de la résolution en longueur d’onde de 0,05 nm (uniquement pour AQ6375E-10 et AQ6375E-20), 0,1, 0,2, 0,5, 1 et 2 nm. Le nombre d’échantillons est passé de 101 à 50 001, pour les anciens modèles, à 101 à 200 001, pour les nouveaux modèles
On retrouve par ailleurs les mêmes performances, telles que la sensibilité de niveau de -70 dBm, ou -65 dBm (version AQ6375E-01 ; 1 800 à 2 200 nm), et de -65 dBm (AQ6376E ; 1 500 à 2 200 nm), une puissance d’entrée maximale de +20 dBm (AQ6375E) et de +13 dBm (AQ6376E), une dynamique close-in de 45 dB (AQ6375E ; pic ±0,4 nm), ou 55 dB (pic ±0,8 nm), et de 40 dB (AQ6376E ; pic ±1 nm), ou 55 dB (pic ±2 nm), ainsi qu’une justesse en niveau de ±1 dB (à 1 550 nm).

Enfin, les nouveaux OSA bénéficient d’une ergonomie améliorée, au travers d’une interface utilisateur (écran couleur tactile 10,4 pouces) fonctionnant un peu comme une tablette numérique, d’une application de test guidant l’utilisateur via des opérations allant du réglage des conditions de mesure à la sortie des résultats d’analyse spécifiques au sujet de mesure



