Zeiss dévoile des microscopes 3D à rayons X de nouvelle génération

Le modèle VersaXRM 730 est capable d’atteindre des performances « exceptionnelles », une vitesse de traitement accrue et une réduction du délai d’obtention des résultats.

Le développement, le contrôle qualité et l’inspection non destructive de nouvelles pièces dans l’industrie manufacturière nécessitent une numérisation efficace, une sélection précise des composants et une imagerie non destructive à haute résolution pour permettre l’évaluation et l’amélioration des dispositifs.

Afin de proposer aux ingénieurs des outils capables de répondre à ces nouveaux défis, l’entité Industrial Quality Solutions du groupe Allemand Zeiss vient d’étendre sa gamme de microscopes 3D à rayons X VersaXRM avec la série VersaXRM.

« Nous avons capitalisé sur la plate–forme polyvalente XRM pour doter le VersaXRM 730 de technologies brevetées intégrées afin d’atteindre des performances exceptionnelles, une vitesse de traitement accrue et une réduction du délai d’obtention des résultats », affirme Daniel Sims, Head of Business Unit Industrial Microscopy Solutions de Zeiss.

« Ces avantages représentent une avancée spectaculaire dans le domaine de la microscopie 3D à rayons X et accélèrent ainsi la productivité dans les applications de recherche et de contrôle qualité dans les secteurs de l’automobile, de l’électronique, de l’aérospatiale, des dispositifs médicaux, de la fabrication additive, etc. », poursuit Daniel Sims.

Les microscopes VersaXRM 615 et VersaXRM 730 intègrent chacun une source de rayons X de tension de 30-160 kV et de puissance de 25 W, ainsi que d’un détecteur de résolution spatiale respective de 500 et 450 nm, avec des objectifs standard (0,4x, 4x et 20x) et optionnels (détecteur 40x-Prime, extension de l’écran plat [Flat Panel Extension ou FPX]).

L’option FPX permet d’accroître la polyvalence en réalisant des tomographies en une minute grâce au logiciel LabDCT (option) et au mode FAST qui permet une navigation 3D en temps réel pour tous les échantillons via une intégration complète avec le flux de travail Volume Scout dans le logiciel de guidage et de contrôle du système ZEN navx.

Ce dernier est une approche systématique de guidage intégré, de flux de travail automatisés et d’informations « intelligentes » sur le système. Le logiciel ZEN navx permet en effet à l’utilisateur, même novice, d’être immédiatement opérationnel et productif, d’obtenir des résultats plus facilement et plus efficacement, et les bonnes données dès la première fois, sans formation avancée.

Le logiciel assure également la protection du système et des échantillons, grâce au SmartShield intégré, et le transfert automatique des données là où les utilisateurs en ont besoin, via l’utilitaire de transfert de fichiers (FTU).

Par ailleurs, le microscope VersaXRM 730 est équipé d’une intelligence artificielle (IA) innovante, permettant de débloquer des capacités nouvelles telles que le DeepRecon Prode, un module de l’Advanced Reconstruction Toolkit associé à une station de travail haute performance et une licence logicielle de deux ans.