Le microscope à rayons X est taillé pour les nouvelles applications

Grâce notamment à une conception centrée sur l’humain et à l’IA, qui améliorent la facilité d’utilisation et la productivité, le Xradia 630 Versa de Zeiss permet de répondre aux exigences d’un plus grand nombre d’applications.

L’Allemand Zeiss vient de dévoiler le microscope à rayons X Xradia 630 Versa, le tout dernier membre de la famille Xradia Versa, destiné à la recherche universitaire et industrielle. « Il brise les barrières de performance en matière de résolution, offre une expérience utilisateur intuitive et accélère la productivité pour tous grâce à des flux de travail faciles et guidés et à un débit plus élevé », résume le fabricant.

Le nouveau microscope dispose de capacités énergétiques plus élevées et du dernier objectif 40X Prime (40X-P) : il atteint des résolutions à distance (RaaD) inégalées de 450-500 nm sur toute la gamme d’énergie, de 30 à 160 kV, et rend désormais accessibles des applications entièrement nouvelles pour les chercheurs.

Parmi les évolutions apportées Xradia 630 Versa, citons une conception centrée sur l’humain, ce qui se traduit par l’aide des utilisateurs dans les flux de travail automatisés grâce à des informations intelligentes sur le système (via le logiciel NavX), une fourniture de résultats expérimentaux plus facile et plus efficace et le transfert automatique des données générées par le microscope là où les utilisateurs pourront y accéder.

Toutes ces fonctionnalités permettent à un utilisateur novice d’être immédiatement productif et aux personnes expérimentées de pouvoir bénéficier de la polyvalence du nouveau microscope à rayons X. « En développant ce nouveau microscope, notre objectif n’était pas seulement d’étendre les capacités d’imagerie, mais aussi de faire en sorte que tous nos utilisateurs puissent accéder facilement à tout le potentiel du système, et bénéficient d’une productivité accrue dans leurs applications », affirme Daniel Sims, Head of X-Ray Microscopy chez Zeiss.

Avec le lancement de la version 3.0 d’Advanced Reconstruction Toolbox (ART), basée une intelligence artificielle (IA) d’apprentissage profond pour la reconstruction, Zeiss propose le pack AI Supercharger avec le tout nouveau DeepScout et les modules DeepRecon Pro pour tous les systèmes Xradia Versa. La plate-forme de microscopie à rayons X fournit ainsi, de manière transparente, une résolution sur de grands champs de vision avec un débit élevé.

DeepScout utilise des mesures issues de microscopes 3D comme jeux de données d’entraînement et met à l’échelle les données de plus grand volume via un modèle entraîné, d’où des débits multipliés par 100 par rapport à une très haute résolution spatiale à volume équivalent.

Quant aux modules DeepRecon Pro, ils apportent des avantages en termes de débit et de qualité d’image pour un ensemble diversifié de types d’échantillons (science des matériaux, recherche sur les batteries, électronique avancée, sciences de la vie…).