Rohde & Schwarz étend sa gamme d’analyseurs de réseau vectoriels
De par sa vitesse, son évolutivité et sa stabilité, la série ZNB3000 de l’Allemand permet aux ingénieurs de naviguer dans la complexité de la prochaine génération des technologies.
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par Cédric Lardière | 28 Fév 2025 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, COMMUNICATIONS, ÉDUCATION/RECHERCHE, MESURE ELEC/ELECTRO, MESURE ELECTRONIQUE, TECHNO, UNE
De par sa vitesse, son évolutivité et sa stabilité, la série ZNB3000 de l’Allemand permet aux ingénieurs de naviguer dans la complexité de la prochaine génération des technologies.
par Cédric Lardière | 30 Sep 2024 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, COMMUNICATIONS, ÉDUCATION/RECHERCHE, MESURE ELEC/ELECTRO, MESURE ELECTRONIQUE, SEMI-CONDUCTEURS, TECHNO
La nouvelle série PNA-X NA520xA de l’Américain simplifie les configurations de test complexes pour la caractérisation de composants, grâce à une « architecture hautement configurable ».
par Cédric Lardière | 19 Sep 2024 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, COMMUNICATIONS, ÉDUCATION/RECHERCHE, MESURE ELEC/ELECTRO, MESURE ELECTRONIQUE, TECHNO
La série SNA6000A du Chinois est constituée de huit modèles se différenciant, notamment, par le nombre de ports (2 ou 4) et la gamme de fréquences (jusqu’à 13,5 ou 26,5 GHz).
par Cédric Lardière | 20 Nov 2023 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, AUTOMOBILE/TRANSPORT, COMMUNICATIONS, MESURE ELEC/ELECTRO, MESURE ELECTRONIQUE, TECHNO
A l’instar de l’analyseur de réseau vectoriel ENA-X E5081A, de l’analyseur de source de signal SSA-X E5055A et du générateur de signal MXG N5186A de Keysight Technologies, les appareils de test et de mesure RF et micro-ondes deviennent des instruments complets, simplifiant la vie des concepteurs d’équipements de communications modernes.
par Cédric Lardière | 7 Juil 2023 | AÉRONAUTIQUE/DÉFENSE, COMMUNICATIONS, ÉDUCATION/RECHERCHE, MESURE ELEC/ELECTRO, MESURE ELECTRONIQUE, TECHNO
Les analyseurs de réseau vectoriels à 2 ports distribués ShockLine ME7869A d’Anritsu permettent d’effectuer des mesures de paramètres S vectoriels complets sur des distances jusqu’à 100 m.
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