Park Systems acquiert Lyncée Tec
Le Coréen du Sud a racheté le développeur suisse de la technologie de microscope holographique numérique (DHM), pour compléter son offre de microscopes à force atomique (AFM).
Étiquette : Park Systems
Échantillons d’étalonnage pour AFM et MEB
La gamme NANOstandard de Park Systems fournit des échantillons standards d’étalonnage pour les microscopes à force atomique (AFM) et les microscopes électroniques à balayage (MEB), assurant des mesures et des analyses précises.
Park Systems dévoile un système de spectroscopie IR à l’échelle nanométrique
Ce système intègre la spectroscopie infrarouge (IR) de la microscopie à force photo-induite (PiFM) sur une plate-forme AFM, pour l’analyse de wafers de semi-conducteurs allant jusqu’à 300 mm.
Park Systems intègre l’ellipsométrie à son catalogue
Le spécialiste en microscopie à force atomique (AFM) et en microscopie interférométrique à lumière blanche a racheté Accurion.
AFM avec interféromètre à lumière blanche
Destiné à la production de semi-conducteurs, le NX-Hybrid WLI de Park Systems est le premier système du marché intégrant en un seul équipement un microscope à force atomique (AFM) à un profilomètre par interférométrie à lumière blanche (WLI).
MESURE ELEC/ELECTRO
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