Un spectromètre EDXRF plus puissant pour identifier encore mieux les traces
Rigaku a développé un spectromètre de fluorescence X à dispersion d’énergie (EDXRF), à excitation indirecte, présenté comme le modèle le plus puissant de sa gamme.
Applied Rigaku Technologies, entité du Japonais Rigaku, vient d’introduire le spectromètre de fluorescence X à dispersion d’énergie (EDXRF), à excitation indirecte, NEX CG II+, présenté comme le modèle le plus puissant de sa gamme et destiné à un niveau supérieur de capacités analytiques.
Reprenant les caractéristiques du modèle NEX CG II, le nouveau spectromètre EDXRF haut de gamme se distingue toutefois par la présence d’un tube à rayons X plus puissant, de 65 kV et 100 W, pour les applications d’analyse élémentaire non destructive requérant une sensibilité accrue.
Les utilisateurs peuvent ainsi effectuer l’analyse des éléments à l’état de traces dans les produits pharmaceutiques, les catalyseurs et les cosmétiques, la surveillance des métaux toxiques dans les aérosols sur les filtres à air, l’analyse des traces de métaux lourds et d’éléments de terres rares, etc.
Parmi les autres spécifications, citons un noyau optique unique à géométrie cartésienne à couplage étroit, cinq cibles secondaires couvrant les éléments du sodium (Na) à l’uranium (U) et un détecteur de dérive au silicium (SDD) à grande surface, ainsi que diverses options de passeurs compatibles avec des échantillons de 32, 40 et 52 mm, l’absence d’eau de refroidissement et d’azote liquide, et des dimensions (L x P x H) de 463 × 492 × 382 mm.
La configuration 3D du noyau optique, associée à une tension et une puissance élevées, élimine le bruit de fond et fournit des taux de comptage élevés, ce qui permet d’augmenter le signal dans le détecteur et, donc, d’atteindre des limites de détection encore plus basses et une excellente résolution spectrale pour les pics de traces.
Par ailleurs, Applied Rigaku Technologies propose, avec son spectromètre NEX CG II+, le logiciel de configuration QuantEZ et le logiciel d’analyses semi-quantitatives sans étalons (analyses quantitatives avec étalons) RPF-SQX Fundamental Parameters, qui est doté de l’algorithme de déconvolution des pics Rigaku Profile Fitting (RPF) et de la technologie Scattering FP.
