Le Crossbeam 550 Samplefab de Zeiss est un microscope électronique à balayage à faisceau d’ions focalisé (FIB-SEM), optimisé pour la préparation automatisée d’échantillons, des échantillons en vrac aux lamelles amincies jusqu’à 100 nm, de microscopie électronique en transmission (MET) dans les laboratoires de semi-conducteurs.
Pour répondre au besoin accru de confirmer plus facilement les informations relatives à la composition d’un produit ou d’un matériau, JEOL propose les microscopes électroniques à balayage (MEB) JSM-IT210 et JSM-IT710HR. Ils se distinguent par des fonctions de mesure automatique améliorées pour l’observation et l’analyse.
Le Japonais a développé le système à faisceau d’ions focalisé et microscope électronique à balayage JIB-PS500i pour une précision plus élevée et un échantillon plus mince pour les microscopes électroniques à transmission (TEM).
Les microscopes électroniques à balayage à émission de champ (FE-SEM) associés à une solution in situ de Zeiss permettent de quantifier la microstructure de matériaux et les propriétés mécaniques globales dans un seul environnement expérimental automatisé.
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